ZGŁOŚ PROBLEMikona ozdobna

Pola oznaczone gwiazdką (*) są wymagane
*
*
*
*
captcha
Zapoznałem/am się i akceptuję regulamin oraz politykę prywatności *

ODSYŁACZE

Link do zasobu (portal):

Link do zasobu (skrót):

http://azon.e-science.pl/zasoby/13879

Link do zasobu (repozytorium):

https://id.e-science.pl/records/13879

Typ zasobu: streszczenie

Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni

Widok

Metadane zasobu

Tytuł Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni
Osoby Autorzy: Hubert Skowronek
Partner: Politechnika Wrocławska
Opis Streszczenie pracy magisterskiej Marka Zoryło, napisanej pod kierunkiem dr. inż. Macieja Kowalskiego. (Polski)
Słowa kluczowe "chropowatość"@pl, "pomiary chropowatości"@pl, "metrologia elektryczna"@pl, "profil chropowatości"@pl
Klasyfikacja Typ zasobu: streszczenie
Dyscyplina naukowa: dziedzina nauk technicznych / mechanika (2011)
Grupa docelowa: naukowcy, studenci, przedsiębiorcy
Szkodliwe treści: Nie
Charakterystyka Miejsce powstania streszczenia: Wrocław
Czas powstania: 2018
Liczba stron streszczenia: 1
Autor źródła: Marek Zoryło
Tytuł źródła: Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni
Miejsce wydania źródła: Wrocław
Wydawca źródła: Politechnika Wrocławska
Czas wydania źródła: 2011
Język zasobu: Polski
Licencja CC BY-SA 4.0
Informacje techniczne Deponujący: Hubert Skowronek
Data udostępnienia: 22-06-2018
Kolekcje Kolekcja Politechniki Wrocławskiej, Kolekcja e-Biblio PWr

Cytowanie

Skopiowano

Hubert Skowronek. Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni. [streszczenie] Dostępny w Atlasie Zasobów Otwartej Nauki, . Licencja: CC BY-SA 4.0, https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/legalcode.pl. Data dostępu: DD.MM.RRRR.

Podobne zasoby

Zobacz więcej