ZGŁOŚ PROBLEM
ODSYŁACZE
Link do zasobu (skrót):
http://azon.e-science.pl/zasoby/30080Link do zasobu (repozytorium):
https://id.e-science.pl/records/30080Metadane zasobu
Tytuł |
Rezystor grubowarstwowy przy obciążeniach impulsowych - pasta QS870 zabezpieczona szkliwem - impulsy 10 ms |
---|---|
Osoby |
Autorzy:
Arkadiusz Dąbrowski
Partner: Politechnika Wrocławska |
Opis |
Na filmie pokazane są zmiany wyglądu rezystora grubowarstwowego wraz z narastającą mocą impulsów elektrycznych, jednocześnie powiązane ze zmianami rezystancji elementu. Przy wyższych mocach impulsu widoczne są efekty polegające na nagrzewaniu oraz pękaniu warstwy rezystora, aż do jego przepalenia przy pewnej krytycznej wartości mocy impulsu. (Polski) |
Słowa kluczowe | "test niezawodności"@pl, "rezystor grubowarstwowy"@pl, "praca impulsowa"@pl, "technologia grubowarstwowa"@pl |
Klasyfikacja |
Typ zasobu:
wideo Dyscyplina naukowa: dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011) Grupa docelowa: naukowcy, studenci, przedsiębiorcy Szkodliwe treści: Nie |
Charakterystyka |
Miejsce powstania: Wrocław
Czas powstania: 2019 Długość nagrania: 00:02:28 Gatunek lub styl nagrania wideo: film naukowy Język zasobu: Polski Kodek: H.264/MPEG-4 Oryginalny nośnik: inne Ocena techniczna jakości materiału: 5 Oryginalny materiał wideo: surówka Dźwięk: niemy |
Linki zewnętrzne | |
Licencja | CC BY-SA 4.0 |
Informacje techniczne |
Deponujący: Arkadiusz Dąbrowski Data udostępnienia: 22-05-2019 |
Kolekcje | Kolekcja Politechniki Wrocławskiej, Kolekcja e-Science PWr |
Cytowanie
Arkadiusz Dąbrowski. Rezystor grubowarstwowy przy obciążeniach impulsowych - pasta QS870 zabezpieczona szkliwem - impulsy 10 ms. [wideo] Dostępny w Atlasie Zasobów Otwartej Nauki, . Licencja: CC BY-SA 4.0, https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/legalcode.pl. Data dostępu: DD.MM.RRRR.
Podobne zasoby
Identyfikacja defektów metodą tomografii komputerowej w mikrofalowym układzie równoważącym wykonanym w technologii LTCC - "Próbka 12" - płaszczyzna XZ
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011)
Proces technologiczny LTCC
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (2018)
Identyfikacja defektów metodą tomografii komputerowej w mikrofalowym układzie równoważącym wykonanym w technologii LTCC - "Próbka 3" - płaszczyzna XZ
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011)
Rezystor grubowarstwowy przy obciążeniach impulsowych - pasta QS870 bez zabezpieczenia szkliwem - impulsy 10 ms
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011)
Identyfikacja defektów metodą tomografii komputerowej w mikrofalowym układzie równoważącym wykonanym w technologii LTCC - "Próbka 3" - płaszczyzna YZ
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011)
Rezystor grubowarstwowy przy obciążeniach impulsowych - pasta 4311 zabezpieczona szkliwem - impulsy 100 ms
Arkadiusz Dąbrowski, wideo, Politechnika Wrocławska, dziedzina nauk technicznych / elektronika (2011)